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Ihr Spezialist für Metalle,
Kunststoffe, Elastomere.
EDX-Analyse mit REM / Mikroanalyse
Ein Rasterelektronenmikroskop (REM) ist ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Muster über das vergrößert abzubildende Objekt geführt (gerastert) wird und zur Erzeugung eines Bildes Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt genutzt werden. Die mit einem Rasterelektronenmikroskop erzeugten Bilder sind plastische Abbildungen der Objektoberfläche und weisen eine äußerst hohe Schärfentiefe auf.
Wir setzen das Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Analyse / Mikroanalyse unter anderem ein bei:
- Schadensanalysen, Bruchanalysen, Verschleißanalysen
- Korrosionsschäden
- Schäden durch Einwirkung von Chemikalien und anderen Medien auf Metalle, Kunststoffe und Elastomere
- Materialbestimmungen, Analyse von Oberflächen
- Partikelanalysen
- Überprüfung der Fertigungsqualität
Schadensanalysen, Bruchanalysen, Verschleißanalysen
Mittels EDX Analyse mit REM können Verschleißspuren in einem Kugellager plastisch dargestellt werden.
Dies ist ein wichtiges Kriterium für die Schadensbeurteilung.
Verschleißspuren an einem Kugellager
Bruch eines glasfasergefüllten Polypropylen (PP)
Klassischer Sprödbruch mit Sprödbruchbahnen in einem PA 6-Teil (Stereomikroskop)
Klassischer Sprödbruch mit Sprödbruchbahnen in einem PA 6-Teil (Detailaufnahme, REM)
Schäden durch Korrosion
Eine Korrosion findet dann statt, wenn ein metallischer Werkstoff mit seiner Umgebung reagiert und durch diese Reaktion eine messbare Veränderung des Werkstoffes bewirkt und zu einer Beeinträchtigung der Funktion eines metallischen Bauteils oder eines ganzen Systems führen kann.
Die Aufnahme zeigt eine stark angegriffene, korrodierte Oberfläche eines Auspuffrohres. Die Zusammensetzung des Belags wurde mit EDX Analyse (Grafik) bestimmt.
Die Aufnahmen zeigen, dass selbst Chromschichten, die normalerweise einen guten Korrosionsschutz darstellen, durch entsprechend starke Säuren angegriffen werden können.
Schäden durch Einwirkung von Chemikalien und anderen Medien auf Metalle, Kunststoffe und Elastomere
Bauteile sind während ihres Einsatzes verschiedenen Chemikalien (Fette, Schmierstoffe, Kühlmittel, Lösungsmittel, Reinigungsmittel) ausgesetzt.
Diese können auf Werkstoffen Spannungsrisse auslösen.
Rissbildung in einem PU-Schlauch durch Medien.
Spannungsriss in Kunststoff. Polycarbonat reagiert besonders empfindlich auf Lösungsmittel wie Toluol und Propanol.
Materialbestimmungen, Analyse von Oberflächen
Bereits winzige Oberflächenfehler wie Blasen oder Krater können beim Lackieren und Beschichten von Bauteilen den optischen Eindruck beeinträchtigen. Während Lack-Krater zum Beispiel durch Spurenkontaminationen mit Fetten, Ölen oder Trennmitteln verursacht werden, entstehen Stippen, Pickel oder andere punktuelle Erhebungen in der Lackoberfläche häufig durch den Einschluss von Fremdteilchen (Staubpartikel, Haare, Fasern, Metallabrieb).
Glasfasern auf der Oberfläche eines Kunststoffteils
Blasenbildung auf einer Lackoberfläche
Partikelanalysen
Kleinste Partikel können schuld sein am frühzeitigen Versagen eines Bauteils. Das IR-Mikroskop liefert uns bei Partikeln bis zu 15 µm brauchbare Ergebnisse. Trotzdem ist der Einsatz eines Rasterelektronenmikroskops und der EDX Analyse bei anorganischen Stoffen unabdingbar.
Die EDX Analyse weist kleinste Elemente nach, die in einer Probe enthalten sind. Hierzu werden Elektronenmikroskope herangezogen, da sie eine deutlich höhere Tiefenschärfe als die Lichtmikroskope ermöglichen. So können wir zum Beispiel nachweisen, ob das Partikel eine Verunreinigung (Fremdpartikel) oder ein zu groß geratener Füllstoffpartikel ist.
EDX Analyse einer Glaskugel in einem anorganischen Additiv aus einem 1 K-Kleber
Eisenpartikel aus rostfreiem (hochlegiertem) Stahl
Überprüfung der Fertigungsqualität
Einsatzmöglichkeiten der EDX Analyse mit REM finden sich auch in der Überprüfung der Fertigungsqualität, beispielsweise im Bereich der Erstmuster- und Serienprüfungen von Bauteilen oder Baugruppen.